產品(pin)簡介

艾(ai)格(ge)斯(si)威高低(di)溫(wen)試驗箱測(ce)試環境條件(jian)：環境溫(wen)度為+5~+28℃、相(xiang)對(dui)濕(shi)度(du)≤85%、試(shi)驗箱內無(wu)試樣條件(jian)下(xia)。

艾(ai)格(ge)斯(si)威高低(di)溫(wen)試驗箱滿(man)足試驗方法：GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低(di)溫(wen)試驗方法Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫(wen)試驗方法Bb

GJB150.4-1986低(di)溫(wen)試驗

GJB150.3-1986高溫(wen)試驗

艾(ai)格(ge)斯(si)威高低(di)溫(wen)試驗箱禁止：

易燃、易爆、易揮發(fa)性物(wu)質(zhi)試(shi)樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)；

腐(fu)蝕性物(wu)質(zhi)試(shi)樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)；

生(sheng)物試(shi)樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)；

強(qiang)電磁(ci)發射(she)源試(shi)樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)；

放射(she)性物(wu)質(zhi)試(shi)樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)；

劇(ju)毒(du)物質(zhi)試(shi)樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)；

試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)過程(cheng)中可能產生(sheng)易燃、爆炸、揮發(fa)、劇毒(du)、腐蝕(shi)及(ji)放射(she)性物(wu)質(zhi)的(de)試樣的試(shi)驗或(huo)儲(chu)存(cun)。

測(ce)試環境條件(jian)：環境溫(wen)度為+5~+28℃、相(xiang)對(dui)濕(shi)度(du)≤85%、試(shi)驗箱內無(wu)試樣條件(jian)下(xia)。

保溫(wen)圍護結構外(wai)壁(bi)材料(liao)：優(you)質(zhi)沙(sha)面不(bu)銹鋼板，內(nei)壁(bi)材料(liao)：優(you)質(zhi)鏡(jing)面不(bu)銹鋼板 （密(mi)封條可耐高低(di)溫(wen)範(fan)圍-100度----+300度(du)，壽(shou) 命10年），箱體保溫(wen)材料(liao)：硬質聚(ju)氨(an)酯(zhi)泡(pao)沫+玻璃纖(xian)維(wei)。

試(shi)驗箱標準(zhun)配置觀(guan)察窗：透(tou)明(ming)電熱(re)膜中空鋼化玻璃1個（位於門上），引線孔：φ50mm 1個（位於箱體左(zuo)側(ce)），門(men)上備(bei)室(shi)內照明燈(deng)(高效長壽(shou)節能燈)，移動腳輪(lun)：4個、樣品架：不(bu)銹鋼樣品架1層，掛(gua)鉤4個，承重(均布(bu)):25kg/層 （箱內樣品累計(ji)總承載不(bu)超過：100kg）。