超聲探(tan)傷儀是壹種(zhong)便攜(xie)式工業無(wu)損檢(jian)測(ce)儀器(qi)，能(neng)夠快(kuai)速(su)、便(bian)捷(jie)、無(wu)損傷且(qie)精確(que)地檢(jian)測(ce)、定(ding)位(wei)、評(ping)估(gu)和(he)診斷(duan)工件內(nei)部(bu)的(de)多種(zhong)缺(que)陷，如裂紋(wen)、疏(shu)松、氣孔、夾(jia)雜等(deng)。基於(yu)超(chao)聲波在材料中(zhong)傳播時，材料的(de)聲學特性(xing)和(he)內(nei)部(bu)組(zu)織(zhi)變化對超(chao)聲波傳播的(de)影響(xiang)進行檢(jian)測(ce)。當超聲波遇(yu)到(dao)不(bu)同聲阻抗(kang)的(de)介(jie)質界(jie)面時，會(hui)發(fa)生(sheng)反(fan)射，反(fan)射回(hui)來(lai)的(de)超聲波被接收並轉換為電信(xin)號(hao)，經(jing)過(guo)處理(li)後形成圖(tu)像(xiang)，供(gong)操(cao)作(zuo)人員判斷(duan)工件內(nei)部(bu)是否(fou)存在缺(que)陷。
根(gen)據信(xin)號處理(li)方式，超聲探(tan)傷儀可(ke)分為(wei)模擬信號(hao)和數(shu)字(zi)信號(hao)兩(liang)類。數(shu)字(zi)式超(chao)聲探(tan)傷儀具(ju)有(you)更高的(de)精度和自動化功能(neng)，能(neng)夠自(zi)動計(ji)算(suan)並保存數(shu)據。根(gen)據圖(tu)像顯示方式，又(you)可(ke)分為(wei)A型、B型(xing)、C型、M型等(deng)多種(zhong)顯示類型。其(qi)中，A型(xing)顯示將接收到(dao)的(de)超聲信號處理(li)成波形(xing)圖(tu)像(xiang)，用於(yu)工業檢(jian)測(ce)；B型(xing)顯示則形成(cheng)二維的(de)解剖圖(tu)像(xiang)，適(shi)用(yong)於觀(guan)察(cha)內(nei)部(bu)靜態物體；M型(xing)顯示適(shi)用(yong)於觀(guan)察(cha)內(nei)部(bu)運動狀態的(de)物體(ti)。
超聲探(tan)傷儀的(de)日常使用維護介(jie)紹：
1、使用前(qian)檢(jian)查
檢(jian)查電源(yuan)（電池電量或外(wai)接電源(yuan)）是否(fou)充(chong)足。
確認探(tan)頭線纜(lan)無(wu)破損(sun)、插頭(tou)無(wu)松動或氧(yang)化。
檢(jian)查屏(ping)幕顯示是否(fou)正(zheng)常，按鍵(jian)/旋(xuan)鈕(niu)靈敏。
校(xiao)準試塊（如(ru)CSK-IA、IIW等(deng)）清潔無(wu)銹(xiu)蝕(shi)。
2、使用中註意事(shi)項(xiang)
避(bi)免(mian)探(tan)頭跌(die)落、撞(zhuang)擊(ji)或過(guo)度彎折(zhe)電纜(lan)。
保持耦合(he)劑(ji)清潔，避(bi)免(mian)雜質(zhi)進入(ru)探(tan)頭晶片縫(feng)隙(xi)。
不(bu)在高溫、強電磁(ci)幹擾(rao)或潮(chao)濕環(huan)境(jing)中(zhong)長時間使用。
探(tan)測(ce)面應平(ping)整、清潔，避(bi)免(mian)粗糙(cao)表面損傷探(tan)頭耐(nai)磨層(ceng)。
3、使用後處理(li)
關(guan)閉電源(yuan)，拔下(xia)探(tan)頭和電池（若(ruo)長期(qi)不(bu)用）。
用(yong)軟(ruan)布(bu)蘸清水或中(zhong)性(xing)清潔劑(ji)擦拭(shi)儀器(qi)外殼(ke)和(he)屏(ping)幕（嚴禁酒精(jing)、丙酮(tong)等(deng)有機(ji)溶劑(ji)）。
清潔探(tan)頭：用濕(shi)布(bu)擦去(qu)耦合(he)劑(ji)殘(can)留，必要(yao)時用專(zhuan)用(yong)探(tan)頭清潔劑(ji)。
將(jiang)儀器(qi)、探(tan)頭、電纜(lan)整(zheng)齊(qi)收納於(yu)防震儀器(qi)箱中(zhong)。
更新(xin)時間：2025-11-20
點(dian)擊(ji)次數(shu)：164
探(tan)傷儀
當前(qian)位置：
