數(shu)字(zi)超聲波(bo)探(tan)傷(shang)儀使用教程(cheng)

　　數字(zi)超聲波(bo)探(tan)傷(shang)儀使用教程(cheng)如下：
 

　　壹、使用前(qian)準備(bei)
 

　　儀器檢查：
 

　　檢查儀器外(wai)觀，確保(bao)無(wu)磕(ke)碰、劃痕(hen)等(deng)損壞。
 

　　確認(ren)儀(yi)器各(ge)部件(jian)完(wan)好(hao)無(wu)損，連接(jie)正(zheng)常。
 

　　工作環(huan)境(jing)確認(ren)：
 

　　確保(bao)工(gong)作環(huan)境(jing)溫度(du)在-10℃至40℃之間，濕(shi)度(du)低於(yu)90%。超(chao)出(chu)此範圍可(ke)能導致儀器測量不準。
 

　　樣品(pin)準(zhun)備(bei)：
 

　　清(qing)理(li)被測樣品(pin)表(biao)面，去除油汙(wu)、鐵屑等(deng)雜質，以(yi)確保(bao)探(tan)頭(tou)與(yu)樣品(pin)良(liang)好(hao)接(jie)觸(chu)。
 

　　二(er)、儀(yi)器設(she)置(zhi)與(yu)校(xiao)準
 

　　開機與(yu)基本設(she)置(zhi)：
 

　　按下探(tan)傷(shang)儀的開機按鈕(niu)，等(deng)待儀器啟動(dong)完成。
 

　　根(gen)據被測物特性，設(she)置(zhi)探(tan)頭(tou)類(lei)型(如直探(tan)頭(tou)、斜(xie)探(tan)頭(tou))、頻率(lv)以(yi)及(ji)測量模式(如厚(hou)度(du)測量、缺陷定(ding)位)。例(li)如，測厚(hou)實(shi)的金(jin)屬(shu)塊可(ke)選低頻探(tan)頭(tou)，測薄(bo)的金(jin)屬(shu)片(pian)則(ze)用高(gao)頻探(tan)頭(tou)。
 

　　探(tan)頭(tou)校(xiao)準：
 

　　直探(tan)頭(tou)校(xiao)準：
 

　　將(jiang)直探(tan)頭(tou)置(zhi)於標準試塊(如CSK-ⅠA試(shi)塊)上(shang)，並(bing)耦合良好(hao)。
 

　　調(tiao)節(jie)探(tan)頭(tou)零(ling)點，使壹次(ci)底(di)波和(he)二(er)次(ci)底(di)波分別對(dui)應(ying)相(xiang)對(dui)水(shui)平(ping)刻度(du)，此時(shi)探(tan)頭(tou)零(ling)點顯(xian)示值(zhi)即(ji)為(wei)該(gai)值(zhi)探(tan)頭(tou)零(ling)點。
 

　　斜(xie)探(tan)頭(tou)校(xiao)準：
 

　　將(jiang)斜探(tan)頭(tou)置(zhi)於標準試塊上(shang)，調節(jie)探(tan)頭(tou)零(ling)點，使特定(ding)圓(yuan)弧面的反(fan)射波(bo)對(dui)應(ying)相(xiang)應的水(shui)平(ping)刻度(du)。
 

　　校(xiao)準探(tan)頭(tou)前(qian)沿：移動(dong)探(tan)頭(tou)使特定(ding)圓(yuan)弧面的反(fan)射體(ti)回波達(da)到最高(gao)，用直尺(chi)量出(chu)探(tan)頭(tou)前(qian)端面(mian)到(dao)圓弧(hu)面的距(ju)離，計(ji)算探(tan)頭(tou)前(qian)沿值(zhi)並(bing)輸(shu)入儀(yi)器。
 

　　校(xiao)準探(tan)頭(tou)K值(zhi)(角度(du))：移動(dong)探(tan)頭(tou)使特定(ding)直徑(jing)的圓(yuan)孔(kong)反(fan)射波(bo)達(da)到最高(gao)，計(ji)算K值(zhi)並(bing)輸(shu)入儀(yi)器。
 

　　材料(liao)聲速(su)測量：
 

　　在參數(shu)菜(cai)單(dan)中設(she)置(zhi)材料(liao)的近(jin)似聲(sheng)速(su)。
 

　　將探(tan)頭(tou)耦合到已(yi)知(zhi)聲程(cheng)的校(xiao)準試(shi)塊上(shang)，調整(zheng)閘(zha)門位置(zhi)以(yi)套住(zhu)壹(yi)次回波和二(er)次(ci)回波。
 

　　增(zeng)加或(huo)減(jian)少(shao)材料(liao)聲速(su)值(zhi)，直到(dao)屏(ping)幕顯(xian)示的聲(sheng)程(cheng)值(zhi)與(yu)試(shi)塊的實(shi)際(ji)聲(sheng)程(cheng)值(zhi)相(xiang)等(deng)。
 

　　三、探(tan)傷(shang)操(cao)作流程(cheng)
 

　　塗(tu)抹(mo)耦合劑：
 

　　在探(tan)頭(tou)和(he)被測樣品(pin)表(biao)面均勻塗(tu)抹(mo)耦合劑，以(yi)確保(bao)良(liang)好(hao)的聲(sheng)波(bo)傳導。
 

　　探(tan)頭(tou)放置與(yu)移動(dong)：
 

　　將探(tan)頭(tou)輕輕放在被測樣品(pin)表(biao)面，避免用力壓(ya)導(dao)致探(tan)頭(tou)變形。
 

　　以(yi)50-100mm/s的速(su)度(du)均勻移動(dong)探(tan)頭(tou)，確保(bao)對(dui)整(zheng)個(ge)被測區域(yu)進(jin)行(xing)全面探(tan)測。
 

　　觀察與(yu)記(ji)錄(lu)：
 

　　眼睛時刻盯(ding)著顯(xian)示屏(ping)，觀察波(bo)形(xing)變化。波(bo)形(xing)突(tu)然(ran)變高(gao)或(huo)變低可(ke)能表示存(cun)在缺陷。
 

　　記(ji)錄(lu)異常波(bo)形(xing)對(dui)應(ying)的參數(shu)和(he)位(wei)置(zhi)，以(yi)便後(hou)續分析(xi)。
 

　　四、數據(ju)分析(xi)與(yu)報(bao)告(gao)
 

　　數(shu)據導(dao)出(chu)：
 

　　使用儀器自(zi)帶(dai)的軟件(jian)將(jiang)探(tan)測數(shu)據導出(chu)為(wei)Excel格(ge)式或(huo)A4紙張的探(tan)傷(shang)報(bao)告(gao)。
 

　　數(shu)據分析(xi)：
 

　　重(zhong)點關註(zhu)波(bo)形(xing)的幅(fu)度(du)和位(wei)置(zhi)。幅(fu)度(du)高(gao)的可(ke)能表示大(da)缺陷(xian)，位置(zhi)變化可(ke)能代表缺(que)陷在不同深度(du)。
 

　　結合DAC曲線(xian)或(huo)計(ji)算法(fa)對(dui)缺(que)陷(xian)進行(xing)定性定(ding)量分析(xi)。
 

　　五、儀器保(bao)養與(yu)存(cun)放
 

　　清(qing)潔保養：
 

　　每(mei)次使用後，用幹(gan)凈的軟布擦(ca)拭(shi)儀(yi)器和(he)探(tan)頭(tou)表(biao)面，去除耦合劑和汙(wu)垢。
 

　　存(cun)放環(huan)境(jing)：
 

　　將(jiang)儀器存(cun)放在幹(gan)燥(zao)、通(tong)風(feng)良好(hao)的環(huan)境(jing)中，避免陽(yang)光(guang)直射和(he)高(gao)溫高(gao)濕(shi)環(huan)境(jing)。
 

　　儀(yi)器應(ying)放置在固定的位(wei)置(zhi)，避免碰撞和傾倒，防(fang)止損壞。
 

　　六(liu)、註(zhu)意(yi)事(shi)項與(yu)操(cao)作技(ji)巧(qiao)
 

　　操(cao)作安(an)全：
 

　　遵守(shou)相關的操(cao)作規(gui)範和安全規程(cheng)，確保(bao)操(cao)作的準(zhun)確性和(he)安(an)全性。
 

　　不(bu)要(yao)用手直接(jie)碰(peng)觸探(tan)頭(tou)的晶(jing)片(pian)，以(yi)免手上(shang)的汗漬和(he)油脂(zhi)損害(hai)探(tan)頭(tou)性能(neng)。
 

　　耦合劑使用：
 

　　耦合劑不要(yao)使用過多，以(yi)免弄(nong)臟(zang)儀(yi)器和(he)樣品(pin)；也(ye)不要(yao)使用過少，否則(ze)會影(ying)響(xiang)探(tan)頭(tou)與(yu)樣品(pin)的接(jie)觸(chu)效果(guo)。
 

　　閘(zha)門靈活運用：
 

　　通(tong)過調(tiao)節(jie)閘(zha)門的起(qi)位、寬度(du)和高(gao)度(du)，將閘(zha)門套住(zhu)需(xu)測量的回(hui)波(bo)信(xin)號，以(yi)便在屏(ping)幕上(shang)直接(jie)讀(du)出(chu)測量值(zhi)。
 

　　顯(xian)示模式切(qie)換(huan)：
 

　　根(gen)據需(xu)要(yao)切(qie)換(huan)顯(xian)示模式，如全屏(ping)顯(xian)示模式有利(li)於現(xian)場(chang)檢測時(shi)避免誤(wu)操(cao)作。
 

　　峰值(zhi)記(ji)憶(yi)功能：
 

　　啟用峰值(zhi)記(ji)憶(yi)功能時(shi)，屏(ping)幕將記(ji)下回波(bo)的最高(gao)點，並(bing)以(yi)虛(xu)線(xian)連接(jie)成包絡(luo)線(xian)，便於(yu)觀察和(he)分析(xi)。